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HP4192A,HP4192A阻抗分析仪
HP4192A阻抗分析仪HP4192A
HP4192A？请在咨询或拨打电话洽谈。
产品编号：HP4192AAgilent4192A低频阻抗分析仪
厂商名称：美国惠普
Agilent4192A低频阻抗分析仪
频率范围:5Hz-13MHz
增益-相位测量：幅度，相位，群延时
浮点或接地器件
阻抗测量：|Z|,|Y|,θ
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2013-03-02 |
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HP4263B
HP4263B电桥LCR
LCR测试仪HP4263B长期求购HP4263B
HP4263B基本精度为0.1%
HP4263B测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程为20mV-1Vrms，以5mVrms分档
HP4263B具有测试信号电平监视功能
高速测量：25msHP4263B
HP42
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2013-03-02 |
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HP4278A
HP4278AHP4278ALCR电桥
HP4278ALCR电桥详细介绍：
HP4278A1HZ-1MHZ电桥
4278A详细资料：
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
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2013-03-02 |
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HP4284A+HP16334A
HP4284A+HP16334A电桥
频率范围：20HZ—1MHZ
阻抗范围：0.01mΩ-100MΩ
基本测量精度：0.05%
主要用途
测试材料的电导率ρ、介电常数ε、电阻R、电抗X、阻抗Z、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q。
可以完成材料的介电温谱测试，测试温度范围：室温-1000℃
·电桥HP4284A0.05%的基本精度，6位数字分辨率<
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2013-03-02 |
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HP4286A,HP4286A
HP4286AHP4286A电桥
产品信息：Agilent4287A射频LCR测试仪
Agilent4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。
与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。
生产率高，质量可靠4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。HP4286A的测量非常快。
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2013-03-02 |
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